CIEDの植込みを受けている患者における心房細動burdenと心不全入院リスクの時間的関連

実臨床の植込み型心臓電気デバイス（CIED）の植込みを受けている大規模患者群において、心房細動（AF）burdenはその後の30日の心不全入院リスクと関連し、AF、及びレートコントロールが不良の患者ではこのリスクが上昇したことが、イギリス、St Bartholomew’s HospitalのNikhil Ahluwalia氏らにより、8月号のCirculation: Arrhythmia and Electrophysiology誌で報告された。