S-ICD植込み患者の長期アウトカム: HONEST研究

フランス全土を対象としたHONEST研究より、S-ICD植込み後5年のデバイス抜去は8.4%、不適切ショックは13.8%、リード機能不全は1.5%に認められたことが、フランス、European Georges Pompidou HospitalのFawzi Kerkouri氏らにより、4月1日号のEuropean Heart Journal誌で報告された。