高リスクのPCIにおける左室負荷軽減: CHIP-BCIS3試験

CHIP-BCIS3試験より、重度の左室機能障害を有し、複雑なPCIを受ける患者において、待機的に経皮的左室補助デバイスを用いた左室負荷軽減は主要有害臨床アウトカムのリスクを低下させなかったことが、イギリス、King’s College LondonのDivaka Perera氏らにより、5月7日号のThe New England Journal of Medicine誌で報告された。